试验程序及方法

试验程序及方法
通常,地面设备用的电子元器件进行较低等级的试验;航空电子设备用的元器件进行较高等级的试验;而特殊要求的产品则进行更高等级的试验。有关标准规定：
①低温按有关标准规定在低温等级表3. 2. 2中选定一个温度。
②髙温按有关标准规定在高温等级表3. 2. 4中选定一个温度。
③高温、低温下保持时间分别为30分钟。
④转换时间为15分钟。
⑤循环次数按有关标准规定3次或5次。
一次循环的过程为图3. 2. 2所示。图中：TA为低温值?山为高、低温下保持时间；Tb为高温值仏为转换时间;T。为室温值;A为次循环的起点。
有时，将转换时间G小于3分钟的温度循环试验称为温度冲击试验。
半导体三级管的温度循环试验是将非工作状态的半导体三级管先后置于低温和高温箱中,共进行5次循环，