振动试验
振动试验
电子元器件及由它们组成的电子产品在使用和运输过程中，会遇到各种频率和不同 强度的振动环境。例如，车载元器件是由于各类车辆的运动引起振动环境的。各类车辆 由于它的行驶速度、轨道情况、路面状态和车辆负荷的不同，其振动频率与振幅也不同。 一般情况下，汽车、火车运行过程中产生的振动加速度小于5. 6g，振动频率范围为1? 8HZ;坦克在战斗中行驶时，振动加速度达到10g左右，振动频率范围为10?500Hz;民航 飞机振动加速度为20☆振动频率大多在30HZ以下;导弹上的振动加速度一般为15 ?20☆振动频率上限为3000HZ。这些数据就是电子元器件实际所处的振动环境，就是 制定振动试验标准的依据。
振动试验所用设备包括提供规定频率、幅度的持续振动设备(振动台系统)和用于试 验测量的光学和电气设备。
振动台系统由振动台面、作动系统、信号源、电源、 功率放大器等组成。这里的作动器实际是振动台内电 磁线圈系统，一定的电信号可使振动台振动，变换信号 源信号使振动台按一定规律振动。其中的加速度传感 器检测振动台的真正振动状态。精度高的振动台根据 传感器测得的振动信号与要求的信号进行比较，把比 较的结果送入控制器，控制器按一定的规律送信号给 作动器，使振动台产生要求的振动。
振动试验是用振动台模拟各种振动环境,将样品 紧固在振动台的专用夹具上进行的试验，以检验振动 对器件性能和可靠性的影响，确定器件承受规定振动等级的能力。
我国在半导体器件总技术条件中规定按两个单项进行振动试验，即：一项是固定频 率的振动试验，称为振动疲劳试验;另一项是按对数方式变频的振动试验，称为变频振动 试验或称为扫频振动试验。
振动疲劳试验：频率选用50Hz，振动加速度为10?12☆在:r、：y两个方向（对于圆壳 封装的器件)或三个方向(对于扁平封装的器件)各进行1小时。另有一种振动疲 劳试验，每个方向进行32小时，甚至更长的时间，以检验各种材料在持续振动应力作用下 是否会产生疲劳损伤。
变频振动试验：频率是按对数方式连续可变的。从50?2000Hz，再由2000?50Hz 为一个周期。扫描一次的时间为(20士2)分钟。在:r、：y两个方向或x、：y、z三个方向进 行，每个方向扫描两次。在变频振动试验过程中,要注意观察试验样品有无共振现象，以及共振时对产品结构的破坏作用。
一般电子元器件的振动试验包括振动疲劳试验、扫频试验、随机振动试验和振动噪声试验。
在实际的振动环境中，产品所遇到的振动波形较复杂，为了简化设备和节省费用，通 常釆用正弦振动形式。
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